Fraunhofer-Institut
f. Physikalische Messtechnik IPM

Heidenhofstr. 8
79110 Freiburg
Deutschland
Telefon+49 761 8857-0
Fax+49 761 8857-224

Das Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM in Freiburg erforscht und entwickelt Messverfahren und Systeme, welche zu höherer Effizienz und Sicherheit von Industrieprozessen und Produkten führen. Grundlage unseres Erfolgs sind unsere rund 200 Mitarbeiterinnen und Mitarbeiter mit ihrem Know-how - gebündelt in vier Fachabteilungen: Produktionskontrolle, Objekt- und Formerfassung, Gas- und Prozesstechnologie sowie Thermische Energiesysteme.

Angebotsspektrum

S.01.01.01 Winkel, Neigung, Orientierung

S.01.01.02 Lage  (3D), Richtung, Inertiale Systeme

S.01.01.03 Länge, Weg - Messbereich < 0,01 m

S.01.01.04 Länge, Weg – Messbereich < 0,5 m

S.01.01.05 Länge, Weg – Messbereich ≥ 0,5 m

S.01.01.06 Abstand, Entfernung, Durchhang - Messbereich < 0,01 m

S.01.01.07 Abstand, Entfernung, Durchhang - Messbereich ≥ 0,01 m

S.01.01.08 Position (2D/3D)

S.01.01.10 Kontur (2D/3D)

S.01.01.11 Topographie

S.01.01.12 Rauhtiefe, Rauheit

S.01.01.17 Kantenerkennung

S.01.01.18 Partikelgröße

S.01.01.21 Schichtdicke

S.01.04.05 Wärmeleitfähigkeit

S.01.04.06 Wärmestrom

S.01.04.07 Brennwert

S.01.05.01 Feuchte, relativ (Gasfeuchte)

S.01.05.02 Feuchte, absolut (Gasfeuchte), Taupunkt

S.01.05.06 Staubdichte, Partikeldichte, Rußdichte

S.01.05.07 Immission, Emission

S.01.05.08 Rauch

S.01.06.02 Photonen-Zähler

S.01.06.03 Lichtleiter Sensoren

S.01.06.04 Strahlung, Strahlungsenergie, Strahlungsdichte

S.01.06.05 Opacität (Trübung), Absorption, Transmission

S.01.06.06 Optische Dämpfung

S.01.06.07 Streulicht-Absorbtion

S.01.06.10 Fluoreszenz

S.01.06.11 Optische Dichte

S.01.06.14 Spektralverteilung

S.01.06.15 Infrarot, IR Messung

S.01.06.16 UV-Messung

S.01.07.05 Ultraschall

S.01.08.06 Magnetische Flussdichte

S.01.08.07 Elektrische Leitfähigkeit

S.01.10.01 Wasserstoff, H

S.01.10.02 Sauerstoff O gasförmig

S.01.10.03 Ozon, O3

S.01.10.05 Stickstoff, N

S.01.10.06 Kohlenmonoxid, CO

S.01.10.07 Kohlendioxid, CO2

S.01.10.08 Stickoxide, NOx

S.01.10.10 Schwefelwasserstoff, H2S

S.01.10.11 Schwefeldioxid, SO2

S.01.10.12 Ammoniak, NH3

S.01.10.17 Ethylen, C2H4

S.01.10.27 Multi-Gassensor (Elektronische Nase)

S.01.10.29 Brennbare Gase

S.02.14 Hall-Sensorelement

S.02.21 Thermoelement

S.02.24 Faseroptischer Sensor

S.02.25 Optoelektronisches Sensorelement

S.02.26 Optisches Interferometer- oder Interferenz-Sensorelement

S.02.27 UV-Messzelle

S.02.28 Infrarot, IR Messzelle

S.02.30 Laser-Messzelle

S.02.32 Ultraschall-Messzelle

S.02.34 Halbleiter-Gassensorelement

S.02.35 Halbleiter-Temperatursensor

S.02.41 CCD-System, CMOS-System

S.03.13 Lichtquelle

S.03.14 Beleuchtungssystem

S.03.16 Laser-System

S.03.18 Linsen-Optik, diffraktive Optik, Fresnel Optik, Folienoptik

M.03.17.01 Spektralanalysator

M.03.17.04 Optischer Analysator

M.04.01 Geometrische Messgröße

M.04.04 Thermische und kalorische Messgröße

M.04.06 Optische Messgröße

M.04.10 Gaskonzentration

M.04.11 Bildverarbeitungs-Messgröße

M.04.13 Optisches Spektrometer

M.04.15 Photoakustisches Spektrometer, PAS

M.06.01 Parametrisierung, Visualisierung

M.06.02 Signalanalyse, Signalauswertung

M.06.06 Systemintegration Software

M.06.08 Automatisierungs-Software

M.06.09 Datenerfassung, Messwerterfassung

M.06.13 Kalibriersoftware

M.08.01 Bildverarbeitung, allgemein

M.08.02 Identität, Code-Erkennung

M.08.03 Objekterkennung, Objektvergleich

M.08.05 Objektvermessung

M.08.06 Mustererkennung, Mustervergleich

M.08.07 Spektrale Bildverarbeitung

M.08.08 Relativbewegungsanalyse

M.08.11 Perspektivische Lage

M.08.12 2D-/3D-Bildanalyse

M.08.15 Zeilenkamera

M.08.16 Compact Vision System

M.08.17 Infrarot-System

M.09.01.01.01 Abgasprüfgerät und Abgasprüfstand

M.09.06.01.01 Ultraschallverfahren

M.09.06.01.04 Rasterkraftmikroskopie

M.09.06.01.05 Bildanalyse

M.09.06.01.07 Automatische optische Inspektion (AOI)

M.09.06.01.08 Optische 3-D-Messtechnik, Dimensionsprüfsystem

M.09.06.01.12 Elektronenmikroskopie (REM)

M.09.06.02.01 Volumen - Fehler

M.09.06.02.02 Wanddicke

M.09.06.02.04 Oberfläche - Fehler

M.09.06.02.05 Oberfläche - Rauigkeit

M.09.06.02.06 Oberfläche - Topographie

M.09.06.02.07 Oberfläche - Schichtdicke

M.09.06.02.08 Oberfläche - Verformung

M.09.06.03.04 Finite-Elemente-Berechnung, FEM

M.09.06.06.02 Emmisions-Spektralanalyse-Mess- und Prüfgerät

M.09.06.06.04 Raman Spektrometer

M.09.06.06.05 FTIR-Spektrometer

D.01.01 Generelle IT, Software, Hardware Dienstleistung

D.01.02.01 Messtechnische Methoden und Verfahren

D.01.02.02 Prüfstandentwicklung

D.01.02.03 Entwicklung mechatronischer Systeme

D.01.02.04.01 Geometrische Messgröße

D.01.02.04.04 Thermische Messgröße

D.01.02.04.05 Kalorische Messgröße

D.01.02.04.08 Optische Messgröße

D.01.02.04.09 Bildverarbeitungs-Größe

D.01.02.04.11 Elektrische oder magnetische Messgröße

D.01.02.04.16 Gaskonzentration

D.01.02.06.04 Halbzeug für Sensoren

D.01.02.06.05 Substratmaterial

D.01.02.06.06 Optische Komponente

D.01.02.06.08 Optische Linse

D.01.02.06.09 Laser

D.01.02.08.02 Dünnschichttechnologie

D.01.02.08.03 Feinwerktechnik

D.01.02.08.06 Rolle zu Rolle (R2R) Strukturierung

D.01.02.08.09 Mikrosystemtechnik, MST

D.01.02.08.10 Mikrostrukturierung auf bzw. von anderen Materialien (Glas, Keramik, Metalle, Polymere)

D.01.02.08.13 Plasma-/Oberflächentechnik

D.01.02.08.16 Faseroptik

D.01.02.08.17 Mikrooptik, integrierte Optik

D.01.02.08.19 Aufbau- u. Verbindungstechnik, Packaging

D.01.02.09.01 Signalverarbeitung u. Algorithmus

D.01.02.09.02 Softwareentwicklung für Mess- und Prüftechnik

D.01.02.09.03 Softwareentwicklung, Sensor-spezifisch

D.01.02.09.05 Algorithmus für Sensor Datenfusion

D.01.02.09.06 Automatisierungssoftware

D.01.03.02 Komponentensimulation, insbesondere mit FEM

D.01.03.05 Systemsimulation

D.01.03.07 Optik-Simulation, Raytracing

D.01.03.12 Mikro-Optik, diffraktive Optik

D.01.04.01 Aufbau- und Verbindungstechnik

D.01.04.04 Handhabungssysteme (Mikro-)

D.01.04.08 Mechatronische Einbindungen

D.01.04.09 Messelektronik

D.01.04.13 Integration von Inertialsensorik für 2D/3D Positions- und Lagebestimmung

D.04.01 Auftragsmessung

D.04.02 Verleih von Messgeräten

D.04.06 Lehre, Aus- und Weiterbildung

D.04.10 Beratung zur Mikrosystemtechnik, MST

D.04.15 Technologieberatung

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