Mitglieder- und Anbietersuche

CiS Forschungsinstitut
für Mikrosensorik GmbH

Konrad-Zuse-Straße 14
99099 Erfurt
Deutschland
Telefon+49 361 663-1410
Fax+49 361 663-1413

Forschung, Entwicklung und Prototyping für die Industrie: Kundenspezifische Konzepte, Design und Simulation, Miniaturisierungs- und Integrationstechnologien für neue optische Sensoren, Strahlungsdetektoren, piezoresistive und kapazitive MEMS. Foundry-Services: Waferprocessing, Aufbau-/Verbindungstechnik, Test, Analytik.

Angebotsspektrum

S.01.09.17 Pulsschlag

S.01.03.16 Durchfluss

D.01.04.02 Packaging

D.02.01 Dehnmessstreifen (DMS) -Technologie

D.02.19 Aufbau- und Verbindungstechnik (AVT), Packaging

D.01.04.01 Aufbau- und Verbindungstechnik

D.01.03.06 Lebensdauer- und Zuverlässigkeitsanalyse

S.01.05.05 Raumklima

S.02.35 Halbleiter-Temperatursensor

S.01.02.04 Druck, absolut

D.01.02.08.09 Mikrosystemtechnik, MST

S.01.06.06 Optische Dämpfung

S.01.09.21 Glukose

D.01.02.04.03 Dynamische Messgröße

D.02.11 Mikrosystemtechnik MST

S.02.04 Piezoresistives Sensorelement

S.01.01.02 Lage  (3D), Richtung, Inertiale Systeme

S.01.03.19 Volumendurchfluss, Volumenstrom in Flüssigkeit

D.01.02.08.13 Plasma-/Oberflächentechnik

D.01.02.04.04 Thermische Messgröße

S.01.09.16 Blutdurchfluss

S.01.06.10 Fluoreszenz

S.01.01.12 Rauhtiefe, Rauheit

D.02.28 Ätztechnologien

S.01.10.07 Kohlendioxid, CO2

D.02.17 Mikroelektronik

S.01.06.08 Brechung

D.02.03 Dünnschicht-Technologie

S.01.02.07 Feinvakuum < 1 mbar

D.02.04 Halbleiter-Technologie

S.01.01.17 Kantenerkennung

S.01.02.01 Kraft, Belastung

D.01.03.02 Komponentensimulation, insbesondere mit FEM

S.01.04.01 Temperatur, berührend

D.02.15 Mikromechanik, Mikrostrukturierung

D.02.30 Bonden

D.01.02.04.08 Optische Messgröße

D.01.02.04.02 Mechanische Messgröße

S.02.25 Optoelektronisches Sensorelement

S.01.06.04 Strahlung, Strahlungsenergie, Strahlungsdichte

D.01.02.04.16 Gaskonzentration

S.01.06.02 Photonen-Zähler

S.02.40 Strahler-Empfänger-Array

S.01.06.11 Optische Dichte

D.02.43 Prototypfertigung

D.01.02.04.06 Klimatische Messgröße

S.01.01.21 Schichtdicke

D.02.12 Mikrosensorik

S.01.02.05 Druck, relativ – Messfehler < 0,1 %

S.02.10 Kapazitives Sensorelement

S.01.02.03 Dehnung, mechanische Spannung

D.01.02.04.12 Chemische Messgröße

S.01.06.09 Reflexion, Remission, Glanz

S.01.06.07 Streulicht-Absorbtion

D.01.02.04.15 Haptische Messgröße

S.01.05.02 Feuchte, absolut (Gasfeuchte), Taupunkt

D.01.02.04.01 Geometrische Messgröße

D.01.02.08.19 Aufbau- u. Verbindungstechnik, Packaging

S.02.23 Fotozelle, Fotosensor

S.01.09.18 Pulsoximetrie, SpO2

D.01.02.04.14 Medizinische Messgröße

S.01.05.01 Feuchte, relativ (Gasfeuchte)

M.03.17.01 Spektralanalysator

D.01.02.08.08 Mikrostrukturierung auf bzw. von Silizium

S.01.06.05 Opacität (Trübung), Absorption, Transmission

S.02.02 Halbleiter Dehnmessstreifen DMS, piezoresistiv

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