S.01.01.03 Länge, Weg - Messbereich < 0,01 m
S.01.01.08 Position (2D/3D)
S.01.06.04 Strahlung, Strahlungsenergie, Strahlungsdichte
S.01.06.14 Spektralverteilung
S.01.06.17 Bildsensor
S.01.06.20 Kontrast
S.01.08.03 Elektrischer Strom, berührungslos
S.01.08.06 Magnetische Flussdichte
S.01.09.17 Pulsschlag
S.01.09.19 Körpertemperatur
S.01.09.22 Laktat
S.02.14 Hall-Sensorelement
S.02.17 Hall-IC
S.02.25 Optoelektronisches Sensorelement
S.02.41 CCD-System, CMOS-System
S.03.13 Lichtquelle
S.03.14 Beleuchtungssystem
S.03.22 ASIC Sensorik-spezifisch
S.03.23 Sensor Schnittstellen IC
S.03.25 Interface Modul
S.03.32 Leiterplatte
S.03.34 Stromversorgung
S.03.42 Polarisator
M.06.02 Signalanalyse, Signalauswertung
M.08.01 Bildverarbeitung, allgemein
M.08.03 Objekterkennung, Objektvergleich
M.08.04 Objektanwesenheit, Objektabwesenheit
M.08.06 Mustererkennung, Mustervergleich
M.08.08 Relativbewegungsanalyse
M.08.10 Landmarkenfindung
M.08.16 Compact Vision System
M.09.04.09 Glasindustrie
M.09.06.01.05 Bildanalyse
M.09.06.01.09 Endoskopische Prüf- und Inspektionssystem
M.09.06.01.15 Weitere Verfahren der zerstörungsfreien Prüfung
D.01.01 Generelle IT, Software, Hardware Dienstleistung
D.01.02.02 Prüfstandentwicklung
D.01.02.04.01 Geometrische Messgröße
D.01.02.04.08 Optische Messgröße
D.01.02.04.09 Bildverarbeitungs-Größe
D.01.02.04.11 Elektrische oder magnetische Messgröße
D.01.02.04.14 Medizinische Messgröße
D.01.02.04.15 Haptische Messgröße
D.01.02.07.04 Halbleiter
D.01.02.07.06 Analoge Schaltung/ASIC
D.01.02.07.08 Digital ASIC
D.01.02.07.09 Mixed-Signal ASIC
D.01.02.07.10 Elektronisches Sensorinterface
D.01.02.08.18 Optoelektronischer integrierter Schaltkreis, OEIC
D.01.02.08.24 Plasmonik
D.01.02.09.01 Signalverarbeitung u. Algorithmus
D.01.03.03 Analogsimulation
D.01.03.04 Digitalsimulation
D.01.03.07 Optik-Simulation, Raytracing
D.01.03.09 Simulation magnetischer Felder
D.01.03.12 Mikro-Optik, diffraktive Optik
D.01.04.06 Systementwicklung Embedded Systeme
D.04.01 Auftragsmessung
D.04.06 Lehre, Aus- und Weiterbildung