S.01.01.03 Length, displacement – range < 0.01 m
S.01.01.08 Position (2D/3D)
S.01.06.04 Radiation, radiated energy, density
S.01.06.14 Spectral distribution
S.01.06.17 Image sensor
S.01.06.20 Contrast
S.01.08.03 Electrical current, contactless
S.01.08.06 Magnetic flux density
S.01.09.17 Pulse rate
S.01.09.19 Body temperature
S.01.09.22 Lactate
S.02.14 Hall sensing element
S.02.17 Hall IC
S.02.25 Optoelectronic element
S.02.41 CCD system, CMOS system
S.03.13 Light source
S.03.14 Illumination system
S.03.22 ASIC, sensor-specific
S.03.23 Sensor interface IC
S.03.25 Interface module
S.03.32 PCB
S.03.34 Power supply
S.03.42 Polarizer
M.06.02 Signal analysis, signal evaluation
M.08.01 Image processing, general
M.08.03 Object detection, object comparison
M.08.04 Object presence, object absence
M.08.06 Pattern recognition, pattern comparison
M.08.08 Motion detection
M.08.10 Landmark detection/identification
M.08.16 Compact vision system
M.09.04.09 Glass industry
M.09.06.01.05 Image analysis
M.09.06.01.09 Endoscopic testing and inspection system
M.09.06.01.15 Further testing processes
D.01.01 General IT, software, hardware services
D.01.02.02 Test bed development
D.01.02.04.01 Geometric parameter
D.01.02.04.08 Optical parameter
D.01.02.04.09 Image processing parameter
D.01.02.04.11 Electrical or magnetic parameter
D.01.02.04.14 Medical parameter
D.01.02.04.15 Haptic parameter
D.01.02.07.04 Semiconductor
D.01.02.07.06 Analog circuit/ASIC
D.01.02.07.08 Digital ASIC
D.01.02.07.09 Mixed-signal ASIC
D.01.02.07.10 Electronic sensor interface
D.01.02.08.18 Optoelectronic integrated circuit, OEIC
D.01.02.08.24 Plasmonics
D.01.02.09.01 Signal processing and algorithm
D.01.03.03 Analog simulation
D.01.03.04 Digital simulation
D.01.03.07 Optics simulation, raytracing
D.01.03.09 Magnetic field simulation
D.01.03.12 Micro optics, diffractive optics
D.01.04.06 System development embedded system
D.04.01 Measuring service
D.04.06 Training, continued education
