Speck Sensorsysteme GmbH

Göschwitzer Straße 32
07745 Jena
Deutschland
Telefon+49 3641 7735-20
Fax+49 3641 7735-26

Hersteller und Entwickler von messenden, intelligenten, optischen Sensorsystemen und spektraler Bildverarbeitung. Farb-, Fluoreszenz-, Lumineszenz-, Zeilensensoren, Spektrometer, Beleuchtung für die Bildverarbeitung, sowie Mess- und Prüfplätze

Angebotsspektrum

S.01.01.17 Kantenerkennung

S.01.01.20 Dicke

S.01.01.21 Schichtdicke

S.01.01.25 Näherungsschalter

S.01.01.26 Lichttaster

S.01.06.01 Lichtstärke, Beleuchtungsstärke

S.01.06.04 Strahlung, Strahlungsenergie, Strahlungsdichte

S.01.06.05 Opacität (Trübung), Absorption, Transmission

S.01.06.06 Optische Dämpfung

S.01.06.07 Streulicht-Absorbtion

S.01.06.09 Reflexion, Remission, Glanz

S.01.06.10 Fluoreszenz

S.01.06.11 Optische Dichte

S.01.06.13 Farbwert

S.01.06.14 Spektralverteilung

S.01.06.15 Infrarot, IR Messung

S.01.06.16 UV-Messung

S.02.24 Faseroptischer Sensor

S.03.13 Lichtquelle

S.03.14 Beleuchtungssystem

S.03.15 LED

S.03.16 Laser-System

S.03.18 Linsen-Optik, diffraktive Optik, Fresnel Optik, Folienoptik

S.03.20 Glasfaserkabel

S.03.37 Funktionsprüfplatz

S.03.45.12 Mikro-/Nanopositionierung, Mikro-/Nanomanipulation

M.03.07 Kombiniertes Mess-, Steuer-, Regelsystem, MSR

M.03.08 PC-basiertes Messsystem

M.03.16.01 Spektralanalysator

M.04.01 Geometrische Messgröße

M.04.06 Optische Messgröße

M.04.11 Bildverarbeitungs-Messgröße

M.04.13 Optisches Spektrometer

M.06.06 Systemintegration Software

M.08.03 Objekterkennung, Objektvergleich

M.08.04 Objektanwesenheit, Objektabwesenheit

M.08.07 Spektrale Bildverarbeitung

M.09.03.06 Testsystem

M.09.03.07 Software-Tool für Testsystem

M.09.03.08 Peripherie, messgrößenunabhängig

M.09.05.07.12 UV-Licht- und Sonnensimulationseinrichtung

M.09.06.01.09 Endoskopische Prüf- und Inspektionssystem

M.09.06.02.02 Wanddicke

M.09.06.02.04 Oberfläche - Fehler

M.09.06.02.05 Oberfläche - Rauigkeit

M.09.06.02.07 Oberfläche - Schichtdicke

M.09.06.03.01 Qualitätsüberwachungseinrichtung

M.09.06.06.02 Emmisions-Spektralanalyse-Mess- und Prüfgerät

M.09.06.06.03 Fluoreszenz-Eindringprüfeinrichtungen und -mittel

D.01.02.01 Messtechnische Methoden und Verfahren

D.01.02.02 Prüfstandentwicklung

D.01.02.04.01 Geometrische Messgröße

D.01.02.04.02 Mechanische Messgröße

D.01.02.04.08 Optische Messgröße

D.01.02.04.09 Bildverarbeitungs-Größe

D.01.02.05.01 Positionieranwendung

D.01.02.06.06 Optische Komponente

D.01.02.06.07 Gehäuse

D.01.02.07.10 Elektronisches Sensorinterface

D.01.02.07.13 Elektronische HW, SW allgemein

D.01.02.09.01 Signalverarbeitung u. Algorithmus

D.01.02.09.02 Softwareentwicklung für Mess- und Prüftechnik

D.01.02.09.03 Softwareentwicklung, Sensor-spezifisch

D.01.04.06 Systementwicklung Embedded Systeme

D.01.04.09 Messelektronik

D.02.41 Sensorik, spezifisch

D.02.43 Prototypfertigung

D.04.01 Auftragsmessung

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